光譜儀應(yīng)用很廣，在農(nóng)業(yè)、天文、汽車(chē)、生物、化學(xué)、鍍膜、色度計(jì)量、環(huán)境檢測(cè)、薄膜工業(yè)、食品、印刷、造紙、拉曼光譜、半導(dǎo)體工業(yè)、成分檢測(cè)、顏色混合及匹配、生物醫(yī)學(xué)應(yīng)用、熒光測(cè)量、寶石成分檢測(cè)、氧濃度傳感器、真空室鍍膜過(guò)程監(jiān)控、薄膜厚度測(cè)量、LED測(cè)量、發(fā)射光譜測(cè)量、紫外/可見(jiàn)吸收光譜測(cè)量、顏色測(cè)量等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。
你了解光譜儀誤差由來(lái)嗎？光譜儀是一類(lèi)精確度很高的設(shè)備，可是由于某些特殊的原因，所檢測(cè)的結(jié)果與真實(shí)含量一般不一致，存有一定誤差。下邊就誤差的類(lèi)型和由來(lái)進(jìn)行分析下!
1.系統(tǒng)偏差的由來(lái)
(1)標(biāo)樣和樣品中的含量和化學(xué)構(gòu)成不*一致時(shí)，可能造成基體線(xiàn)和分析線(xiàn)的強(qiáng)度轉(zhuǎn)變，進(jìn)而引出誤差。
(2)標(biāo)樣和樣品的物理性能不*一致時(shí)，激發(fā)的特征譜線(xiàn)會(huì)有差異進(jìn)而形成系統(tǒng)偏差。
(3)澆注狀態(tài)的鋼樣與通過(guò)退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測(cè)到的數(shù)據(jù)會(huì)有一定的差異。
2.偶然誤差的由來(lái)
與樣品成分不均勻有關(guān)的誤差。由于光電光譜分析所耗費(fèi)的樣品非常少，樣品中元素分布的不均勻性、組織結(jié)構(gòu)的不均勻性，造成不同部位的分析結(jié)果不同而形成偶然誤差。主要原因如下：
(1)熔煉過(guò)程中帶入夾雜物，形成的偏析等造成樣品元素分布不均勻。
(2)樣品的瑕疵、氣孔、裂痕、沙孔等
3.其它因素誤差
(1)氬氣不純。當(dāng)氬氣中包含氧和水蒸氣時(shí)，會(huì)使激發(fā)斑點(diǎn)變差。假如氬氣管道與電極架有污染物排不出去，分析結(jié)果會(huì)變差。
(2)室溫的上升會(huì)增加光電倍增管的暗電流，減少信噪比。濕度大容易造成髙壓元件出現(xiàn)漏電、放電現(xiàn)象，使分析結(jié)果不穩(wěn)定。
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