| 品牌 | 昊量光電 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
膜厚測(cè)量?jī)x（厚度范圍1nm~1.8mm）
使用昊量光電膜厚測(cè)量?jī)x產(chǎn)品，只需單擊鼠標(biāo)即可測(cè)量 1nm 至 1.8mm 的薄膜厚度。幾乎可以測(cè)量任何透明或者半透明薄膜厚度，直觀的設(shè)計(jì)意味著您可以在幾分鐘內(nèi)進(jìn)行一次薄膜厚度測(cè)量！
昊量光電膜厚測(cè)量?jī)x通過(guò)分析光如何被薄膜反射來(lái)測(cè)量薄膜厚度。通過(guò)分析超出人眼可見(jiàn)波長(zhǎng)的波長(zhǎng)，昊量光電 膜厚測(cè)量?jī)x可以測(cè)量幾乎所有厚度大于 100 個(gè)原子的非金屬薄膜。而且由于沒(méi)有移動(dòng)部件，因此可以在幾秒鐘內(nèi)獲得結(jié)果：薄膜厚度、折射率，甚至粗糙度！
越來(lái)越多的公司依靠 膜厚測(cè)量?jī)x進(jìn)行經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的薄膜厚度測(cè)量。手機(jī)、眼鏡、液晶顯示器和數(shù)百種其他產(chǎn)品的制造商都非常欣賞我們的設(shè)備易于使用、成本更低，并且提供無(wú)與的倫比的支持。事實(shí)上，我們的客戶(hù)每天都在向我們展示我們的薄膜厚度測(cè)量工具的新用途！
昊量光電膜厚測(cè)量?jī)x-測(cè)量厚度從 1nm 到 1.8mm 的膜厚測(cè)量系統(tǒng)
我們的膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)量薄膜的厚度和折光率可在不到一秒的時(shí)間內(nèi)完成。與我們所有的厚度測(cè)量?jī)x器一樣， 此款設(shè)備可連接到 Windows™ 計(jì)算機(jī)的 USB 端口，并在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)置。不同型號(hào)的膜厚測(cè)量?jī)x主要根據(jù)波長(zhǎng)范圍進(jìn)行區(qū)分。標(biāo)準(zhǔn) MProbe 20 是 非常受歡迎的產(chǎn)品。通常，較薄的薄膜需要較短的波長(zhǎng)，而較長(zhǎng)的波長(zhǎng)允許測(cè)量較厚、較粗糙和更不透明的薄膜。
膜厚測(cè)量?jī)x（厚度范圍1nm~1.8mm）包括什么配件？
集成光譜儀/光源單元
測(cè)試樣品臺(tái)
光纖
參考資料
校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)厚度薄膜Si片
作手冊(cè)的硬拷貝
連接電纜
獨(dú)立軟件（用于實(shí)時(shí) 測(cè)量和數(shù)據(jù)分析）
昊量光電膜厚測(cè)量?jī)x測(cè)試原理：
當(dāng)指定波長(zhǎng)范圍的光照射到薄膜上時(shí)，從不同界面上反射的光相位不同，從而引起干涉導(dǎo)致強(qiáng)度相長(zhǎng)或相消。而這種強(qiáng)度的振蕩是與薄膜的結(jié)構(gòu)相關(guān)的。通過(guò)對(duì)這種振蕩擬合和傅里葉變換就可獲得樣品厚度和相關(guān)的光學(xué)常數(shù)。
比如：
半導(dǎo)體（硅，單晶硅，多晶硅）
半導(dǎo)體化合物（AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS）
微電子機(jī)械（MEMS）
氧化物/氮化物
光刻膠
硬涂層（碳化硅，類(lèi)金剛石炭）
聚合物涂層（聚對(duì)二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺）
高分子聚合物
MProbe 系列膜厚測(cè)量?jī)x分類(lèi)：
1、單點(diǎn)膜厚測(cè)量——MProbe Vis |
|
2、單點(diǎn)手持膜厚測(cè)量——MProbe HC |
|
3、搭配顯微鏡載物平臺(tái)的MProbe 20 系統(tǒng) |
|
上海市徐匯區(qū)虹梅路2007號(hào)6號(hào)樓3樓
info@auniontech.com
